UHVT熱変形次元カード軟化点試験器はISO 75（E）、ISO 306（E）、GB/T 8802、GB/T 1633、GB/T 1634標準の規定に完全に適合している。同機はPC機制御を採用し、Windows 98以上のオペレーティングシステムを持つコンピュータでよい。中（英）操作インタフェースを問う。試験中にリアルタイムで温度−変形量の曲線、温度−時間曲線を動的に描画することができ、新たに改訂された基準に従って、試験は水平配置と側立配置ができる、実験方法の熱変形または次元カードを選択することができます。試験圧力を選択し、負荷質量を自動的に計算することができる、試験終了時にシステムは自動的に加熱を停止する、試験結果はディスクに保存でき、試験報告書を印刷できる。この製品は温度制御精度が高く、温度勾配が小さく、システムは試料フレーム自体の変形による試験誤差を補償することができる。

UHVT熱変形ビカード軟化点試験機はまた温度上限保護、試料棚自動昇降（B型）などの機能を有し、自動化、知能化が極めて高い理想的な試験機器である。

UHVT熱変形次元カード軟化点テスタ技術パラメータ：
1、温度制御範囲：室温―300℃、
2、昇温速度：50±1℃/h、120±2℃/h、
3、試料ラック数：3つの試料ラック、試験時に任意に選択できる、
4、加熱媒体：メチルシリコーンオイル、
5、加熱電力：3 kw、
6、冷却方法：自然冷却/水冷/空冷、
7、電源：AC 220 V±10%、50 Hz、